3장. 커패시터와 인덕터
왼쪽 절반에만 찍고 오른쪽은 백지로 비웁니다 — 읽으면서 옆에 적어 보세요. 내용은 하나도 안 자릅니다.
2단으로 빽빽하게, 표시된 것만 — 시험 직전에 훑는 배치입니다.
커패시터의 원리
커패시터(capacitor)는 전하를 저장하고, 전압 변화에 저항합니다. 이 성질이 필터·디커플링·커플링의 전부입니다.
정전용량F전하 / 품질 계수전압V
정전용량F거리 또는 두께m전류A시간s전압V
각주파수rad/s정전용량F주파수Hz허수 단위컬렉터 임피던스Ω
정전용량F주파수Hz컬렉터 임피던스Ω
이득정전용량F거리 또는 두께m저항 (소신호)Ω
정전용량F에너지J전압V
전하 변화량C시간 간격s전류A전하 / 품질 계수시간s
전하 변화량C전압 변화량V정전용량F전하 / 품질 계수전압V
정전용량F차단 주파수Hz저항Ω
이득정전용량F거리 또는 두께m저항 (소신호)Ω
이동도m²/V·s정전용량F전하 / 품질 계수전압V
이동도m²/V·s정전용량F에너지J전압V
정전용량F거리 또는 두께m전류A시간s전압V
저항Ω
차단 주파수Hz
⚠️ 이상과 실제
| 이상 | 실제 | 영향 |
|---|---|---|
| 순수 용량 | ESR(직렬 저항) + ESL(직렬 인덕턴스(inductance)) | 고주파에서 임피던스 상승, 자기공진 |
| 용량이 일정 | DC 바이어스로 용량이 감소 (X5R/X7R은 정격의 절반 전압에서 50~80% 감소!) | 설계값과 실제가 크게 다름 |
| 온도 무관 | 온도계수 (X7R: ±15%, Y5V: +22/−82%) | |
| 누설 없음 | 절연(isolation) 저항 유한 → 누설 전류(leakage current) | 고임피던스 회로에서 옵셋 |
| 무손실 | 유전 흡수(dielectric absorption) | 샘플-홀드 회로에서 오차 |
| 진동 무관 | 세라믹은 압전 효과로 진동을 전압으로 바꿈 (마이크로포닉스(microphonics)) | 저잡음 회로에서 문제 |
⚖️ 고르는 기준
| 선택 | ✅ 좋아지는 것 | ⚠️ 나빠지는 것 |
|---|---|---|
| 큰 용량 | 저주파까지 낮은 임피던스, 리플(ripple) 감소, 에너지 저장 | 크기·비용, ESR·ESL 증가, 돌입 전류(inrush current), 누설 증가, 자기공진 주파수 하락 |
| 작은 용량 | 고주파 특성 우수, 소형, 저누설 | 저주파에서 임피던스 높음 |
| 여러 값을 병렬 | 넓은 주파수 대역에서 낮은 임피던스 | 반공진(anti-resonance) 피크 발생 (11-02), 부품 수 증가 |
| 고내압 제품 | 안전 여유, DC 바이어스 특성 개선 | 크기·비용 증가, 같은 크기에서 용량 감소 |
⚖️ 고르는 기준
| 목적 | ✅ | ⚠️ |
|---|---|---|
| AC 커플링 (직렬) | DC 옵셋·드리프트 제거, 전극 반전위(half-cell potential) 차단 | 저주파 신호 손실, 위상 왜곡, 시정수만큼 회복 시간 필요, 커패시터 누설이 옵셋을 만듦 |
| 저역통과 필터 (병렬) | 고주파 노이즈·에일리어싱(aliasing) 제거 | 신호 대역폭 제한, 상승시간 저하, 소스 임피던스와 함께 세틀링 시간 증가 |
| 디커플링 (전원-접지) | 전원 임피던스 하강, 노이즈 억제 | 돌입 전류, 전원 기동 시간 증가, 반공진 |
| 피드백 보상 | 발진 방지, 안정성 확보 | 대역폭 희생 |
RC 과도응답과 시정수
. 이 하나의 숫자가 필터 대역폭(bandwidth), 세틀링 시간, 멀티플렉싱 속도를 전부 결정합니다.
시정수s정전용량F잡음 전압 밀도V/√Hz저항Ω시간s컬렉터 전압V신호원 전압V
정전용량F거리 또는 두께m저항Ω시간s컬렉터 전압V신호원 전압V
시정수s잡음 전압 밀도V/√Hz비트 수 또는 개수시간s
시정수s잡음 전압 밀도V/√Hz시간s0번 전압V컬렉터 전압V
시정수s정전용량F차단 주파수Hz저항Ω
시정수s상승 시간s
차단 주파수Hz상승 시간s
시정수s
차단 주파수Hz
시정수s
시정수s정착 시간s
이동도m²/V·s온도 또는 주기 (frame)
시정수s
시정수s
차단 주파수Hz
시정수s시간s
프레임 주파수Hz
시정수s
⚠️ 이상과 실제
| 이상 | 실제 |
|---|---|
| 지수함수 그대로 | 커패시터의 유전 흡수로 마지막 0.1%가 매우 느리게 안정 |
| τ는 계산값 | 부품 오차(R ±1%, C ±10%)로 τ도 ±11% |
| C가 일정 | DC 바이어스로 용량 감소 → τ가 설계보다 짧아짐 |
| 소스 임피던스 0 | 실제 소스 임피던스가 R에 더해짐 |
| 단일 극 | 기생 성분(parasitic)으로 추가 극이 생겨 응답이 달라짐 |
⚖️ 고르는 기준
| 선택 | ✅ 좋아지는 것 | ⚠️ 나빠지는 것 |
|---|---|---|
| τ를 크게 (큰 R 또는 C) | 노이즈 필터링 강함, 리플(ripple) 감소 | 느린 응답, 세틀링 시간 증가 → 채널 수·샘플링률 제한 |
| τ를 작게 | 빠른 응답, 높은 대역폭 | 노이즈가 그대로 통과, 에일리어싱(aliasing) 위험 |
| R을 키워 τ 확보 | 커패시터(capacitor)가 작아 소형·저비용 | 열잡음(thermal noise) 증가, 입력 바이어스 전류(input bias current) 오차, 로딩 |
| C를 키워 τ 확보 | 잡음 증가 없음, 임피던스 낮게 유지 | 커패시터가 커지고 비쌈, 누설·DC 바이어스 특성 |
인덕터와 RL 회로
인덕터(inductor)는 전류 변화에 저항합니다. 커패시터(capacitor)의 완벽한 쌍대(dual)이며, 배선(trace)의 기생 인덕턴스(parasitic inductance)가 노이즈의 주범입니다.
거리 또는 두께m전류A인덕턴스H시간s전압V
각주파수rad/s주파수Hz허수 단위인덕턴스H부하 임피던스Ω
에너지J전류A인덕턴스H
시정수s잡음 전압 밀도V/√Hz전류A인덕턴스H저항Ω시간s신호원 전압V
거리 또는 두께m전류A인덕턴스H시간s전압V
정전용량F주파수 (ring)Hz인덕턴스H
거리 또는 두께m전류A인덕턴스H시간s전압V
주파수 (SRF)Hz
임피던스Ω
이동도m²/V·s시정수s인덕턴스H저항Ω
인덕턴스H
거리 또는 두께m전류A인덕턴스H시간s전압V
정전용량F주파수 (SRF)Hz인덕턴스H
⚠️ 이상과 실제
| 이상 | 실제 |
|---|---|
| 순수 인덕턴스 | DCR(권선 저항) + 기생 용량(권선 간) |
| 이 일정 | 포화 전류를 넘으면 급격히 감소 — 스위칭 레귤레이터 파괴 원인 |
| 무손실 | 코어 손실(히스테리시스(hysteresis), 와전류) → 발열 |
| 고주파까지 인덕터 | 자기공진 주파수 위에서는 커패시터로 동작 |
| 자기장이 갇힘 | 비차폐형은 자기장이 새어나가 인접 회로에 결합(coupling) |
⚖️ 고르는 기준
| 선택 | ✅ 좋아지는 것 | ⚠️ 나빠지는 것 |
|---|---|---|
| 큰 인덕턴스 | 리플(ripple) 전류 감소, 필터링 강함 | 크기·비용·DCR(직류 저항) 증가, 포화(saturation) 전류 감소, 자기공진 주파수 하락 |
| 작은 인덕턴스 | 소형, 빠른 응답, 고주파 특성 좋음 | 리플 커짐 |
| 페라이트 비드 | 고주파만 선택적으로 감쇠, 저주파 손실 없음, 저렴 | 뒤 커패시터와 공진 가능, DC 전류로 특성 열화, 큰 전류에서 포화 |
| 차폐형 인덕터 | 자기장 누설 적음 → 주변 회로에 간섭(interference) 적음 | 비쌈, 큼 |
| 비차폐형 인덕터 | 싸고 작음 | 자기장이 주변으로 새어 인접 회로에 유도 노이즈 — 측정 회로 근처에 두면 안 됨 |
실제 커패시터 고르기
용량만 맞으면 되는 게 아닙니다. 유전체 종류가 회로 성능을 결정하고, DC 바이어스로 용량이 반토막 납니다.
⚠️ 이상과 실제
| 이상 | 실제 | 영향 |
|---|---|---|
| 용량이 표기대로 | DC 바이어스로 최대 80% 감소 | 설계 목표 미달 |
| 온도 무관 | X7R ±15%, Y5V +22/−82% | 온도에서 특성 변화 |
| 순수 용량 | ESR + ESL | 고주파 임피던스 상승 (11-02) |
| 누설 없음 | 절연(isolation) 저항 유한 (전해는 특히 큼) | 고임피던스 회로 옵셋 |
| 진동 무관 | 마이크로포닉스 | 기계적 진동이 노이즈로 |
| 완전 방전 | 유전 흡수 — 전압이 되살아남 | 샘플-홀드 오차 |
| 수명 무한 | 전해는 전해액 건조로 수명 유한 (105 °C에서 2000시간 등) | 장기 신뢰성 |
⚖️ 고르는 기준
| 유전체 | ✅ 좋아지는 것 | ⚠️ 나빠지는 것 | 언제 |
|---|---|---|---|
| C0G/NP0 | 최고 안정도, DC 바이어스 없음, 저손실, 저잡음, 유전 흡수 극소 | 용량이 작음(최대 ~100 nF), 크고 비쌈 | 타이밍, 필터, 적분기, 크리스털 |
| X7R | 대용량 대비 안정, 저렴, 소형 | DC 바이어스·온도로 용량 변동, 마이크로포닉스(진동→전압) | 디커플링, 일반 |
| X5R | 최대 용량, 소형, 저렴 | X7R보다 온도 범위 좁음, DC 바이어스 심함 | 벌크 디커플링 |
| 알루미늄 전해 | 대용량 최저가 | ESR 큼, 수명 제한, 극성, 저온에서 특성 악화, 부피 | 전원 벌크 |
| 탄탈 | 소형 대용량, ESR 낮음, 안정 | 역전압·서지에 발화, 비쌈, 디레이팅 50% 필요 | 소형 기기 |
| 폴리머 | ESR 최저, 장수명, 안정 | 비쌈, 내압 낮음 | 고성능 전원 |
| 필름 | 유전 흡수 최소, 저손실, 고내압, 무극성 | 크고 비쌈 | 오디오, 정밀 아날로그, AC |
⚖️ 고르는 기준
| 자리 | 권장 | 이유 |
|---|---|---|
| 신호 경로 필터 | C0G 또는 필름 | 안정, 저손실, 유전 흡수 적음, 마이크로포닉스(microphonics) 없음 |
| AC 커플링 | 필름 또는 C0G | 유전 흡수가 신호를 왜곡 |
| 디커플링 (IC 옆) | X7R 100 nF | 용량과 크기의 균형 |
| 벌크 | X5R/X7R 10 µF + 전해/폴리머 | 저주파 임피던스(impedance) |
| 샘플-홀드 | C0G 또는 폴리프로필렌 | 유전 흡수가 곧 측정 오차 |
| 적분기 | 폴리프로필렌 필름 | 최고 정밀 |
RLC 과도응답 — 링잉의 정체
커패시터와 인덕터가 한 회로에 있으면 에너지를 주고받습니다. 그 왕복을 저항이 얼마나 빨리 잡아먹느냐가 링잉이냐 아니냐를 정합니다.
정전용량F거리 또는 두께m전류 (순시값)A인덕턴스H저항Ω시간s
정전용량F인덕턴스H저항Ω
정전용량F인덕턴스H비트 수 또는 개수저항Ω
정전용량F인덕턴스H저항Ω
거리 또는 두께m비트 수 또는 개수
정전용량F잡음 주파수Hz인덕턴스H
정전용량F인덕턴스H저항Ω
잡음 전압 밀도V/√Hz피크 상호 인덕턴스H전하 / 품질 계수
정전용량F주파수Hz인덕턴스H
이동도m²/V·s인덕턴스H
공진 주파수Hz
정전용량F인덕턴스H전하 / 품질 계수저항Ω
정전용량F인덕턴스H저항Ω
신호원 시간s
링잉은 고장이 아니라 에너지가 두 곳을 왕복하는 소리입니다.
⚠️ 이상과 실제
| 이상 | 실제 |
|---|---|
| 과 는 내가 놓은 부품 | 대부분 기생입니다 — 배선 1 mm ≈ 1 nH |
| 은 내가 놓은 저항 | 소자의 출력 저항·ESR·도체 손실이 이미 조금 있습니다 |
| 가 계산대로 | 커패시터 용량이 DC 바이어스로 반토막 나면 도 바뀝니다 |
| 링잉은 눈에 보인다 | 대역이 좁은 스코프로는 안 보입니다. 보이지 않는다고 없는 것이 아닙니다 |
⚖️ 고르는 기준
| 방법 | ✅ 좋아지는 것 | ⚠️ 나빠지는 것 |
|---|---|---|
| 직렬 저항 | 확실, 부품 하나 | DC 전압 강하, 열, 출력 임피던스↑ |
| RC 스너버 (직렬 RC 를 병렬로) | DC 손실 없이 공진만 잡음 | 부품 둘, 값 계산 필요 |
| ESR 큰 커패시터 | 부품 안 늘림 | 리플·잡음↑, 온도 특성 나쁨 |
| 손실 큰 비드 | 고주파만 잡음 | 저주파 링잉엔 안 들음, DCR |
| 자체를 줄임 | 근본 해결 | 배선·부품 배치를 바꿔야 함 |
연습문제
인쇄하면 답이 접힌 채로 나옵니다 — 그대로 문제지가 됩니다. 위의 “답도 함께 인쇄” 를 켜면 풀이까지 펴서 나옵니다.
- 커패시터의 원리10 µF 커패시터를 12 V로 충전했습니다. 저장된 에너지와 전하량은?
풀이
- 커패시터의 원리1 µF 커패시터에 흐르는 전류가 1 mA로 일정합니다. 전압은 초당 얼마나 오릅니까?
연습 3-01-2 — 정전류로 커패시터를 채우면 풀이
초당 1000 V. 이것이 정전류 충전으로 톱니파를 만드는 원리입니다(적분기, 7-05).
- 커패시터의 원리전극 임피던스 1 MΩ 신호원에 AC 커플링 커패시터 1 µF을 직렬로 넣고, 뒷단 입력 저항이 10 MΩ입니다. 차단주파수는?
연습 3-01-3 — AC 커플링의 차단주파수 풀이
고역통과 필터의 저항은 커패시터가 보는 전체 저항, 즉 소스 저항 + 부하 저항입니다.
약 14.5 mHz (69초 시정수). 매우 낮은 차단주파수로, DC 드리프트는 막으면서 신호는 거의 다 통과시킵니다.
⚠️ 다만 시정수가 11초( s)이므로, 전원을 켜거나 전극을 붙인 직후 회로가 안정되는 데 1분 가까이 걸립니다. 그리고 큰 옵셋 변화(전극이 움직임)가 있으면 회복에 오래 걸려 데이터를 버려야 합니다.
이 트레이드오프 때문에 실제 생체 측정에서는 DC 서보 회로를 쓰기도 합니다 → 13-05
- RC 과도응답과 시정수1 kΩ과 1 µF의 시정수와 차단주파수는?
풀이
- RC 과도응답과 시정수12비트 ADC로 정확히 읽으려면 몇 τ를 기다려야 합니까? τ가 100 ns라면 최대 샘플링률은?
연습 3-02-2 — 12비트에 필요한 τ 와 최대 샘플링률 풀이
ns → ns
최대 샘플링률은 MSPS입니다. (변환 시간은 별도로 더해야 함)
- RC 과도응답과 시정수액티브 어레이에서 1000채널을 프레임당 한 번씩 읽습니다. 각 채널의 신호 대역폭을 2 kHz로 확보하려면, 채널당 세틀링 시간은 얼마 이하여야 합니까? 10비트 정확도 기준으로 허용되는 τ는?
풀이
필요 프레임 레이트: 나이퀴스트에 여유를 둬서 신호 대역의 최소 2배, 실무에서는 4~5배를 씁니다. 여기서는 4배로 잡습니다.
프레임 주기:
채널당 시간:
허용 τ (10비트 = 6.9τ):
τ ≤ 18 ns. 논문에 나오는 τ ≈ 20 ns라는 숫자가 바로 이런 계산에서 나옵니다.
이제 τ = RC를 만족시키려면:
- 배선(trace) 기생 용량이 2 pF이라면 → 출력 임피던스
- 배선 기생 용량이 10 pF이라면 → 출력 임피던스
즉 픽셀의 소스 팔로워(source follower)는 수 kΩ 이하의 출력 임피던스를 내야 하고, 열 배선의 기생 용량은 pF 수준으로 억제되어야 합니다. 이것이 16-01에서 다루는 설계 제약의 핵심입니다.
- 인덕터와 RL 회로10 mH 인덕터와 1 kΩ 저항의 시정수는?
연습 3-03-1 — L/R 시정수 풀이
- 인덕터와 RL 회로PCB 배선 20 mm를 통해 100 mA가 10 ns 만에 켜집니다. 발생하는 전압은?
풀이
200 mV. 3.3 V 시스템에서 6%의 전원 변동이고, µV 신호를 다루는 회로에는 재앙입니다.
- 인덕터와 RL 회로커패시터 ESL이 1 nH이고 용량이 100 nF입니다. 자기공진 주파수는? 그 위에서 이 커패시터는 어떻게 동작합니까?
연습 3-03-3 — 커패시터의 자기공진 풀이
약 16 MHz. 이 주파수에서 임피던스가 최소(ESR과 같음)가 되고, 그 위에서는 ESL이 지배해 인덕터처럼 동작합니다 — 주파수가 올라갈수록 임피던스가 커집니다.
그래서 100 MHz 노이즈를 잡으려면 100 nF으로는 안 되고, 더 작은 커패시터(1 nF, SRF ~160 MHz)가 필요합니다. 이것이 값이 다른 커패시터를 병렬로 쓰는 이유입니다 → 11-02
- 실제 커패시터 고르기5 V 레일의 디커플링에 "10 µF X5R 0603 6.3 V"를 썼습니다. 무엇이 문제입니까?
연습 3-04-1 — 6.3 V 짜리 10 µF 을 5 V 에 쓰면 풀이
두 가지 문제:
- DC 바이어스: 6.3 V 정격에 5 V를 걸면 용량이 2~3 µF으로 감소합니다 (70% 이상 손실). 10 µF을 기대했지만 실제로는 1/4입니다.
- 내압 여유 부족: 정격 6.3 V에 5 V는 79%로 여유가 적습니다. 전원 과도 상태에서 초과할 수 있습니다.
개선: 10 µF X5R 0805 25 V 또는 22 µF 0805 16 V. 5 V에서도 8~15 µF을 유지합니다.
- 실제 커패시터 고르기크리스털 발진기의 부하 커패시터에 X7R을 쓰면 어떻게 됩니까?
풀이
크리스털의 발진 주파수는 부하 용량에 민감합니다. X7R은:
- 온도에 따라 ±15% 변동 → 주파수가 온도에 따라 드리프트
- DC 바이어스 (여기서는 DC가 거의 안 걸려 영향 적음)
- 에이징으로 용량 감소
결과적으로 클럭 주파수가 불안정해집니다. UART 통신 오류, 타이밍 오차의 원인이 됩니다.
반드시 C0G/NP0를 쓰세요. 온도계수 ±30 ppm/°C로 사실상 무시할 수준입니다.
- 실제 커패시터 고르기정밀 적분기 회로에 세라믹 X7R을 썼더니, 큰 신호 후에 출력이 서서히 되돌아오는 현상이 관찰됩니다. 원인과 해결책은?
풀이
유전 흡수(dielectric absorption) 입니다. Class II 세라믹은 유전체 내부에 전하가 갇혀 있다가 천천히 방출되어, 방전 후에도 전압이 되살아납니다. X7R의 유전 흡수는 2~5% 수준입니다.
해결: 유전 흡수가 매우 작은 유전체로 교체
- 폴리프로필렌(PP) 필름: 0.01~0.05% ← 최선
- C0G/NP0: 0.1% 이하
- 폴리스티렌: 0.02%
정밀 적분기, 샘플-홀드, ADC 기준전압(voltage reference) 필터에는 폴리프로필렌 필름이 표준입니다.
- RLC 과도응답 — 링잉의 정체스코프에서 링잉 주기가 250 ns 로 보이고, 프로브 용량이 12 pF 라면 기생 인덕턴스는 얼마입니까?
풀이
MHz.
132 µH 입니다 — 배선일 리가 없습니다. PCB 배선은 1 nH/mm 이라 132 µH 를
만들려면 132 m 가 필요합니다. 이 값이 나왔다면 회로 안에 진짜
인덕터(페라이트 비드, 초크, 변압기 권선)나 긴 케이블이 있다는 뜻입니다.⚠️ 이 문서는 한동안 이 자리에 132 nH 라고 적고 "13 cm 쯤 되는 배선"
이라고 이어 붙이고 있었습니다. 자릿수를 세 개 놓친 것입니다. 연습 회로가
132 nH 로는 250 ns 가 안 나온다는 것을 보여 주어 잡혔습니다 — 배선 크기의
132 nH 는 같은 12 pF 와 126 MHz(주기 7.9 ns) 로 웁니다.그래서 자릿수 감이 결론을 정합니다. 250 ns 는 배선 이야기가 아니고,
8 ns 라야 "접지 리드를 의심할 길이" 입니다.이것이 링잉의 쓸모입니다. 없애야 할 것이지만, 없애기 전에 재는 자로
쓸 수 있습니다. - RLC 과도응답 — 링잉의 정체벅 레귤레이터 입력에 페라이트 비드(1 µH)와 세라믹 10 µF 를 달았습니다. 공진 주파수와 Q 는? (비드 DCR 0.1 Ω, 커패시터 ESR 5 mΩ)
연습 3-05-2 — 페라이트 비드와 세라믹의 공진 풀이
직렬 RLC 이므로 :
Q = 3 → 50 kHz 에서 약 9.5 dB 증폭. 스위칭 주파수가 500 kHz 라도
부하 과도의 저주파 성분이 50 kHz 근처에 있으면 그것이 3배로 커져 나옵니다.대책: 세라믹과 병렬로 직렬 RC(예 1 Ω + 22 µF)를 답니다. DC 손실
없이 를 1 근처로 떨어뜨립니다 → 8-06 - RLC 과도응답 — 링잉의 정체 = 100 nH, = 100 pF 인 회로를 오버슈트 없이 가장 빠르게 정착시키려면 직렬 저항은?
연습 3-05-3 — 오버슈트 없이 가장 빠르게 풀이
오버슈트 0 이면서 가장 빠른 것은 임계감쇠 입니다.
63 Ω.
rad/s
( MHz)이므로 정착 시간은 이 정합니다.
12비트()면⚠️ 실제로는 63 Ω 이 신호와 직렬로 들어가므로 뒷단 입력 임피던스가 높아야
전압이 안 나눠집니다. 뒷단이 1 kΩ 이면 6% 를 잃습니다.