기생 용량이 만드는 문제

한 줄 요약 — 기생 용량(parasitic capacitance) 하나가 대역폭·상승시간·세틀링·안정성을 동시에 망칩니다. 이 장은 그 네 가지를 한 번에 정리합니다.


기생 용량이 어디서 오는가

출처크기
PCB 트레이스-플레인(plane)1~3 pF/cm
인접 트레이스 간0.5~2 pF/cm
케이블 (동축)50~100 pF/m
커넥터1~5 pF
오실로스코프(oscilloscope) 프로브10~15 pF (10:1), 100 pF (1:1)
OP앰프 입력2~10 pF
다이오드(diode) 접합1~100 pF
MOSFET CgsC_{gs}, CgdC_{gd}pF ~ nF
소켓·브레드보드2~5 pF/접점
ADC 샘플링 커패시터(sampling capacitor)샘플링 커패시터 sampling capacitorADC 안에서 신호를 잠깐 담아 두는 커패시터로, 이것을 채우는 시간이 곧 세틀링 요구가 됩니다.자세히 보기 →4~20 pF

★ 영향 1 — 대역폭 붕괴

fc=12πRsourceCparasiticf_c = \frac{1}{2\pi R_{source}C_{parasitic}}
기호
C_parasitic기생 정전용량parasitic capacitanceF
f_c차단 주파수cutoff frequencyHz
R_source신호원 저항source resistanceΩ

이것이 가장 흔하고 가장 치명적입니다.

RsourceR_{source}CC=5 pFCC=20 pFCC=100 pF
1 kΩ31.8 MHz7.96 MHz1.59 MHz
10 kΩ3.18 MHz796 kHz159 kHz
100 kΩ318 kHz79.6 kHz15.9 kHz
1 MΩ31.8 kHz7.96 kHz1.59 kHz
10 MΩ3.18 kHz796 Hz159 Hz

“고임피던스 × 기생 용량 = 대역폭(bandwidth) 재앙” — 이 표를 머릿속에 넣으세요.


★ 영향 2 — 상승시간 저하

tr=2.2τ=2.2RCt_r = 2.2\tau = 2.2 R C
기호
tau시정수time constants
C정전용량capacitanceF
R저항resistanceΩ
t_r상승 시간rise times
RCRC상승시간
1 ns2.2 ns
1 µs2.2 µs
1 ms2.2 ms

스파이크(spike)나 과도 신호의 파형이 뭉개집니다. 신경 스파이크(폭 ~1 ms, 상승 ~0.2 ms)를 보려면 τ<50 μ\tau < 50\ \mus 정도가 필요합니다.

Rsource×C<50 μsR_{source}\times C < 50\ \mu\text{s}
기호
mu이동도mobilitym²/V·s
C정전용량capacitanceF
R_source신호원 저항source resistanceΩ

CC = 20 pF이면 Rsource<2.5 MΩR_{source} < 2.5\ \text{M}\Omega — 전극 임피던스가 그 이상이면 파형이 왜곡됩니다.


★ 영향 3 — 세틀링 시간 (멀티플렉싱의 한계)

nn비트 정확도에 필요한 시간 (3-02):

tsettle=0.693(n+1)×RCt_{settle} = 0.693(n+1)\times R C
기호
C정전용량capacitanceF
n비트 수 또는 개수number of bits or count
R저항resistanceΩ
t_settle정착 시간settling times

채널 수 × 대역폭의 상한

Nchannels×fframe≤1tsettleN_{channels}\times f_{frame} \leq \frac{1}{t_{settle}}
기호
f_frame프레임 주파수frame rateHz
N_channels개수 (channels)count (channels)
t_settle정착 시간settling times

예: RR = 5 kΩ, CC = 2 pF, 10비트

τ=10 ns,tsettle=76 ns\tau = 10\ \text{ns}, \quad t_{settle} = 76\ \text{ns}
기호
tau시정수time constants
t_settle정착 시간settling times
N×fframe≤13.2 MN\times f_{frame} \leq 13.2\ \text{M}
기호
f_frame프레임 주파수frame rateHz
N개수count
채널 수최대 프레임 레이트
100132 kHz
1,00013.2 kHz
2,5005.3 kHz
10,0001.3 kHz

기생 용량 하나가 시스템의 “채널 수 × 대역폭” 상한을 정합니다. 이것이 16-01의 가장 중요한 제약입니다.

CC를 2 pF에서 1 pF으로 줄이면 상한이 2배가 됩니다. 그래서 어레이 설계에서 배선(trace) 용량을 줄이는 것이 사활적입니다.


★ 영향 4 — 안정성 (발진)

피드백 루프 안에 기생 용량이 극을 만들면 위상 여유(phase margin)위상 여유 phase margin루프 이득이 1이 되는 주파수에서 발진까지 얼마나 남았는지를 각도로 나타낸 값입니다.PM=180∘+∠T(f0dB)\mathrm{PM} = 180^\circ + \angle T(f_{0\mathrm{dB}})자세히 보기 →가 사라집니다.

위치결과
OP앰프 출력 + 부하 용량발진 (7-07)
TIA 반전(inverting) 노드 용량발진, 링잉(ringing)
소스 팔로워(source follower) 게이트 인덕턴스 + 출력 용량음성 저항 발진
레귤레이터(regulator) 출력 용량루프 불안정

★ 영향 5 — 크로스토크

인접 배선의 신호가 결합합니다.

Vcoupled=Ccoupling×Rvictim×dVaggressordtV_{coupled} = C_{coupling}\times R_{victim}\times\frac{dV_{aggressor}}{dt}
기호
C_coupling정전용량 (coupling)capacitance (coupling)F
d거리 또는 두께distance or thicknessm
R_victim저항 (victim)resistance (victim)Ω
t시간times
V_aggressor전압 (aggressor)voltage (aggressor)V
V_coupled전압 (coupled)voltage (coupled)V

고임피던스 노드에서는 작은 용량으로도 큰 결합(coupling)이 생깁니다 → 12-04


★ 기생 용량을 줄이는 방법 — 총정리

방법효과대가
배선을 짧게비례 감소배치 제약
소스 임피던스(impedance)임피던스 impedance교류에서의 저항으로, 크기뿐 아니라 전압과 전류의 시간 차이(위상)까지 담은 복소수입니다.ZC=1jωC,ZL=jωLZ_C = \frac{1}{j\omega C},\quad Z_L = j\omega L자세히 보기 →를 낮춤 (버퍼)RCRC의 RR을 줄임 — 가장 효과적부품·전력·잡음
고임피던스 노드 아래 플레인 제거30~50% 감소차폐(shielding)차폐 shielding도체로 감싸 전기장을 막는 것으로, 한쪽 끝만 접지해야 접지 루프가 생기지 않습니다.자세히 보기 → 약화
배선을 좁게20~30% 감소저항 증가
가드링 (부트스트랩(bootstrap))실효 용량 거의 0버퍼 필요, 발진 위험
드리븐 실드케이블 용량 무효화회로 복잡
저용량 부품 선택소자별다른 특성 타협
소스 옆에 버퍼 배치근본 해결집적 필요

★ 가드링과 부트스트랩 — 기생 용량을 없애는 마법

기생 용량 CC의 양단 전압이 변하지 않으면, 전하가 들락거리지 않아 용량이 없는 것과 같습니다.

I=CdVdt=0ifdVdt=0I = C\frac{dV}{dt} = 0 \quad\text{if}\quad \frac{dV}{dt} = 0
기호
C정전용량capacitanceF
d거리 또는 두께distance or thicknessm
I전류currentA
t시간times
V전압voltageV

가드링 (guard ring)

고임피던스 노드 주위를 같은 전압으로 구동되는 트레이스로 둘러쌉니다.

가드링 — 고임피던스 노드를 같은 전압의 링으로 감쌉니다.

전압차가 0 이면 그 사이 용량은 충전할 전하가 없으므로 없는 것과 같아집니다: Ceff=C(1−Av)C_{eff} = C(1 - A_v), Av≈1A_v \approx 1 이면 Ceff≈0C_{eff} \approx 0.

효과:

  1. 노드와 가드 사이 전압차 0 → 기생 용량 무효화
  2. 표면 누설 전류(leakage current) 차단 (누설이 가드로 흐르고 노드에 도달하지 않음)

구현: 버퍼(볼티지 팔로워(voltage follower)소스 팔로워 source follower전압 이득이 1인데도 쓰는 이유는 높은 임피던스를 낮은 임피던스로 바꿔 주기 때문입니다.자세히 보기 →)의 출력을 가드에 연결

드리븐 실드 (driven shield)

케이블의 실드를 접지하지 않고 신호와 같은 전압으로 구동합니다.

신호 (중심선)버퍼신호를 그대로 복사해 낮은 임피던스로 내보낸다실드를 신호와 같은 전압으로 구동드리븐 실드 (driven shield)

케이블 실드를 접지가 아니라 신호와 같은 전압으로 구동합니다. 중심선과 실드 사이 전압차가 0 이 되므로 케이블 용량(100 pF/m)이 사실상 사라집니다.

케이블 용량 100 pF이 사실상 0이 됩니다.

✅⚠️
케이블 용량 무효화 → 대역폭 회복버퍼 필요
고임피던스 원거리 전송 가능발진 위험 (버퍼가 큰 용량을 구동)
누설 차단(cutoff)실드의 차폐 효과는 유지됨 (전위가 같아도 외부 전기장은 막음)

💡 드리븐 실드는 고임피던스 측정의 결정적 기법입니다. 정전용량(capacitance) 센서, 미소 전류 측정, 마이크로전극 기록에서 널리 씁니다.

⚠️ 버퍼가 100 pF의 용량성 부하를 구동해야 하므로 직렬 저항이나 보상이 필요합니다 (7-07).


시뮬레이션으로 확인

가드링이 기생 용량을 무효화한다 회로도RE1MΩ전극 임피던스CG20pF노드-가드 간 기생 용량V11VVP5VVN-5VU1OPA140VCCVCCVEEVEESRCINGUARDGND
가드링이 기생 용량을 무효화한다워크벤치에서 열기 →
# examples/11-parasitics/guard-ring-effect.yaml
meta:
  name: 가드링이 기생 용량을 무효화한다
  lesson: docs/11-parasitics/05-parasitic-capacitance.md
  note: 가드를 접지에 연결한 버전(no-guard.yaml)과 대역폭을 비교
components:
  - {ref: VP,  type: vdc, value: 5}
  - {ref: VN,  type: vdc, value: -5}
  - {ref: V1,  type: vac, value: 1}
  - {ref: RE,  type: r, value: 1MEG, label: 전극 임피던스}
  - {ref: CG,  type: c, value: 20p,  label: 노드-가드 간 기생 용량}
  - {ref: U1,  type: opamp, model: OPA140}
nets:
  VCC:  [VP.p, U1.'v+']
  VEE:  [VN.p, U1.'v-']
  SRC:  [V1.p, RE.1]
  IN:   [RE.2, CG.1, U1.'in+']
  GUARD: [CG.2, U1.out, U1.'in-']    # 가드를 버퍼 출력에 연결
  GND:  [VP.n, VN.n, V1.n]
analyses:
  - {type: ac, sweep: dec, points: 30, fstart: 100, fstop: 10MEG}

비교: CG.2를 GND에 연결하면 fc=7.96f_c = 7.96 kHz. 버퍼 출력(가드)에 연결하면 대역폭이 수백 kHz~MHz로 확장됩니다.

원리: 버퍼 출력이 입력을 따라가므로 CGC_G 양단 전압이 거의 변하지 않아, 전하가 필요 없습니다.


⚖️ 부품 트레이드오프

선택✅ 좋아지는 것⚠️ 나빠지는 것
가드링 사용실효 용량·누설 제거버퍼 필요, 면적, 발진 위험
드리븐 실드케이블 용량 무효화버퍼가 큰 용량 구동, 발진 위험
소스 옆 버퍼근본 해결, 가장 효과적집적·배치 제약, 전력
플레인 제거용량 감소차폐·리턴 경로 약화
배선 짧게모든 기생 감소배치 자유도
아무것도 안 함부품 0대역폭·세틀링·안정성 전부 손해

🔌 실제 쓰임새

상황기생 용량이 만드는 문제대책
전극(electrode) → 증폭기대역폭 붕괴전극 옆 버퍼
어레이 열 배선세틀링 지연 → 채널 수 제한배선 최소화, 낮은 출력 임피던스
TIA 반전 노드발진, 대역 제한피드백 커패시터(capacitor), 플레인 제거
오실로스코프 측정회로가 바뀜액티브 프로브(probe), 저용량 프로브
정전용량 센서감도 저하드리븐 실드
긴 케이블 전송대역폭 손실버퍼 + 드리븐 실드
MOSFET 게이트스위칭 지연, 밀러강한 게이트 구동

⚠️ 이상과 실제의 차이

이상실제
노드는 이상적항상 대지·인접 도체와 용량 결합
측정해도 회로 안 변함프로브가 10 pF을 추가
시뮬레이션대로기생을 넣지 않으면 실물과 완전히 다름
용량은 고정다이오드·MOSFET 용량은 전압에 따라 변함 (비선형 왜곡)

⚠️ 시뮬레이션에 기생 용량을 넣지 않으면 무한대 대역폭이 나옵니다. 고임피던스 회로를 설계할 때는 반드시 예상 기생 용량을 모델에 넣고 시뮬레이션하세요. 이 저장소의 *-real.yaml 예제들이 그 방식입니다.


연습문제

문제 1. 500 kΩ 소스에 15 pF 프로브를 대면 대역폭은?

exercises/11-05-probe-500k.yaml
풀이 fc=12π×5×105×15×10−12≈21.2 kHzf_c = \frac{1}{2\pi\times5\times10^5\times15\times10^{-12}} \approx 21.2\ \text{kHz}
기호
f_c차단 주파수cutoff frequencyHz

21 kHz. 100 MHz 오실로스코프를 써도 회로가 21 kHz로 잘립니다.

해결: 액티브 프로브(입력 용량 1 pF 이하) → 318 kHz

문제 2. 어레이 열 배선 용량이 5 pF, 픽셀 출력 임피던스 3 kΩ입니다. 12비트 세틀링 시간과, 1000채널일 때 최대 프레임 레이트는?

연습 11-05-2 — 어레이 열 배선이 프레임 레이트를 정한다 회로도R13kΩ픽셀 출력 임피던스VP픽셀이 미는 계단C15pF열 배선 용량INOUTGND
연습 11-05-2 — 어레이 열 배선이 프레임 레이트를 정한다워크벤치에서 열기 →
풀이 τ=3000×5×10−12=15 ns\tau = 3000\times5\times10^{-12} = 15\ \text{ns}
기호
tau시정수time constants
tsettle=0.693×13×15 ns=135 nst_{settle} = 0.693\times13\times15\ \text{ns} = 135\ \text{ns}
기호
t_settle정착 시간settling times
fframe,max=11000×135×10−9=7.4 kHzf_{frame,max} = \frac{1}{1000\times135\times10^{-9}} = 7.4\ \text{kHz}
기호
f_frame,max주파수 (frame, 최대)frequency (frame, maximum)Hz

채널당 유효 대역폭은 나이퀴스트로 3.7 kHz (실용적으로는 1~2 kHz).

개선하려면:

  • 배선 용량 5 pF → 2 pF (배선 단축, 실드 최소화) → 2.5배
  • 출력 임피던스 3 kΩ → 1 kΩ (바이어스 전류 증가) → 3배
  • 정확도 12비트 → 10비트 → 1.2배
  • 병렬 리드아웃 → 열 수만큼

문제 3. 1 m 동축 케이블(100 pF)로 1 MΩ 전극 신호를 보내야 합니다. 드리븐 실드를 쓰면 어떻게 되고, 어떤 위험이 있습니까?

exercises/11-05-driven-shield.yaml
풀이

드리븐 실드 없이 (실드 접지):

fc=12π×106×100×10−12=1.59 kHzf_c = \frac{1}{2\pi\times10^6\times100\times10^{-12}} = 1.59\ \text{kHz}
기호
f_c차단 주파수cutoff frequencyHz

신호 대부분이 사라집니다.

드리븐 실드 사용:

실드를 신호와 같은 전압으로 구동하면, 중심선-실드 간 전압차가 0이 되어 케이블 용량이 실효적으로 사라집니다.

남는 것은:

  • 버퍼의 입력 용량 (2~5 pF)
  • 실드-외부 간 용량 (버퍼가 구동하므로 신호에 영향 없음)
fc≈12π×106×5×10−12≈31.8 kHzf_c \approx \frac{1}{2\pi\times10^6\times5\times10^{-12}} \approx 31.8\ \text{kHz}
기호
f_c차단 주파수cutoff frequencyHz

20배 개선. 여전히 5 pF 때문에 제한되므로, 전극 옆에 버퍼를 두는 것이 더 낫습니다.

위험:

  1. 발진 — 버퍼가 100 pF의 용량성 부하를 구동하므로 위상(phase) 여유가 사라집니다 (7-07)

    • 대책: 실드 구동 버퍼를 별도로 두고(신호 버퍼와 분리), 직렬 저항(10~100 Ω) 삽입
  2. 버퍼의 이득 오차 — 버퍼 이득이 정확히 1이 아니면(0.99), 잔류 전압차가 생겨 용량이 완전히 사라지지 않습니다

    Ceff=C(1−Av)=100 pF×0.01=1 pFC_{eff} = C(1-A_v) = 100\ \text{pF}\times0.01 = 1\ \text{pF}
    기호
    A_v전압 이득voltage gain
    C정전용량capacitanceF
    C_eff유효 정전용량effective capacitanceF

    그래도 100배 개선입니다

  3. 차폐 효과 — 실드가 신호를 따라 움직여도 외부 전기장은 여전히 막습니다 (실드가 도체이므로). 자기장 차폐는 원래 안 됩니다

  4. 버퍼의 잡음이 실드에 실림 — 신호 경로에 직접 영향은 없지만, 실드가 안테나가 되어 방사할 수 있습니다

실무 구성: 신호 버퍼 + 별도의 실드 구동 버퍼 + 직렬 저항. 상용 액티브 프로브와 정전용량 센서가 이 구조를 씁니다.


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