아날로그 프론트엔드 3종
한 줄 요약 — 신호원의 종류가 첫 단 구조를 결정합니다. 전류원·전압원·저항성 센서 각각의 표준 해법을 봅니다.
케이스 A — 트랜스임피던스 증폭기 (포토다이오드)
신호원 등가회로
포토다이오드는 전류원 + 큰 병렬 용량입니다.
포토다이오드 하나를 세 소자가 병렬로 붙은 것으로 봅니다. 셋 다 같은 두 단자(애노드·캐소드) 사이에 나란히 있습니다.
| 등가 소자 | 정체 | 회로에 미치는 영향 |
|---|---|---|
| (전류원) | 빛이 만드는 광전류. 우리가 재고 싶은 것 | 빛에 비례. 전압과 무관 |
| (접합 용량) | PN 접합의 공핍층 용량 | 앰프 입력에 매달려 안정성과 잡음 이득을 지배 ★ |
| (션트 저항) | 접합의 누설 경로 | 매우 커서(100 MΩ~) 보통 무시. 초저광량에서만 문제 |
| 파라미터 | 전형값 |
|---|---|
| 광전류 | pA ~ µA |
| 접합 용량 | 10 pF (소형) ~ 1 nF (대면적) |
| 션트 저항 | 100 MΩ ~ 100 GΩ |
| 암전류 | pA ~ nA |
전류원이므로 “입력 임피던스(impedance)입력 임피던스 input impedance회로가 신호원에서 전류를 얼마나 적게 빼앗는지를 나타내는 값으로, 신호원 임피던스의 100배는 돼야 안전합니다.자세히 보기 →가 낮아야” 합니다. 전압 측정과 정반대입니다 (2-05).
회로
| 부품 | 어디에 붙나 | 하는 일 |
|---|---|---|
| PD | 반전 입력 ↔ GND | 광전류를 반전 입력으로 밀어 넣는다 |
| 반전 입력 ↔ 출력 | 전류를 전압으로 바꾼다. | |
| 와 병렬 | 발진을 막는다 (아래 참조). 동시에 대역을 정한다 | |
| 비반전 입력 | GND (또는 역바이어스) | 여기 전압이 곧 가상 접지 전압이 된다 |
가상 접지가 포토다이오드 양단 전압을 0으로 유지 → 접합 용량이 충방전되지 않아 선형성이 좋습니다.
★ 핵심 설계 — 피드백 커패시터
와 반전(inverting) 노드의 총 용량 ()이 극을 만들어 발진합니다 (13-04).
C_in입력 정전용량input capacitanceFC_f피드백 정전용량feedback capacitanceFf_-3dB−3 dB 대역폭−3 dB bandwidthHzGBW이득 대역폭 곱gain-bandwidth productHzR_f피드백 저항feedback resistanceΩ설계 예제
요구: = 100 nA(최대), 출력 1 V, 대역폭(bandwidth) 10 kHz 소자: PD 용량 50 pF, OPA140(GBW 11 MHz, 10 pA)
1) 결정
R_f피드백 저항feedback resistanceΩ2) 추정
C_in입력 정전용량input capacitanceF3) 계산
C_f피드백 정전용량feedback capacitanceF4) 대역폭 확인
f_-3dB−3 dB 대역폭−3 dB bandwidthHz목표 10 kHz를 만족합니다 ✅
⚠️ 0.29 pF은 PCB 기생 용량(parasitic capacitance)기생 용량 parasitic capacitance부품·배선·케이블이 원치 않게 갖는 커패시턴스로, 고임피던스 신호원에서 대역폭을 가장 먼저 잡아먹습니다.자세히 보기 →보다 작습니다. 실제로는:
- 피드백 저항 양단의 기생 용량(0.1~0.5 pF)만으로 보상될 수 있음
- 레이아웃이 회로의 일부 — 를 짧게, 아래 플레인(plane) 제거, 가드링 (15-06)
- 실측으로 최종 조정
5) 잡음 확인
| 잡음원 | 밀도 (출력 환산) |
|---|---|
| 열잡음(thermal noise)열잡음 thermal noise모든 저항이 온도 때문에 내는 피할 수 없는 잡음으로, 측정의 바닥을 정합니다.자세히 보기 → | = 407 nV/√Hz |
| OP앰프 | 5.1 nV × 197 = 1005 nV/√Hz ❌ |
| OP앰프 | 0.8 fA × 10 M = 8 nV/√Hz |
⚠️ OP앰프 전압잡음이 배로 증폭됩니다. 이것이 TIA의 지배적 잡음원이고, 이 클수록 심각합니다.
대책: 작은 PD 사용, 를 키움(대역폭 희생), 저잡음 OP앰프, 역바이어스로 감소
⚖️ TIA 트레이드오프
| 선택 | ✅ | ⚠️ |
|---|---|---|
| 큰 | 이득↑, 신호/잡음비 개선 (, ) | 대역폭↓, 기생 용량 영향↑, 발진 위험 |
| 작은 + 후단 이득 | 대역폭↑, 안정 | 잡음↑ (후단 이득이 잡음도 증폭) |
| 역바이어스 | ↓ → 대역폭↑, 잡음↓ | 암전류↑ → 옵셋·샷잡음 |
| 무바이어스(photovoltaic) | 암전류 0, 옵셋 최소 | 큼 |
| 큰 | 안정 | 대역폭↓ |
💡 TIA에서는 를 최대한 크게 하는 것이 잡음에 유리합니다. 신호는 에 비례하고 저항 잡음은 에 비례하므로, SNR이 로 개선됩니다. 대역폭이 허용하는 한 크게 잡으세요.
케이스 B — 계측 증폭기 생체전위 프론트엔드
신호원
| 항목 | 값 |
|---|---|
| 신호 | 20 µV ~ 5 mV |
| 전극(electrode) 임피던스 | 10 kΩ ~ 1 MΩ (주파수 의존) |
| DC 오프셋 | ±300 mV |
| 공통 모드 (60 Hz) | 최대 수 V |
| 대역 | 0.5 ~ 5000 Hz |
회로
입력단 — 전극 두 개가 각각 같은 대칭 구조를 지납니다.
| 소자 | 어디에 | 값 | 하는 일 |
|---|---|---|---|
| 직렬 R | 전극+ / 전극− 각각 직렬 | 10 kΩ | 과전류 보호(고장 시 µA로 제한) + 아래 C들과 필터를 이룬다 |
| 각 선 → GND (2개) | 100 pF | 각 선을 GND 기준으로 필터 (공통 모드) | |
| 두 선 사이 (1개) | 10 nF | 두 선 사이를 필터 (차동). 의 10배 이상이어야 불일치가 CMRR을 덜 깎는다 |
그다음은 한 줄로 이어집니다.
옆가지 하나 — DRL(Driven Right Leg) 회로가 계측 증폭기에서 공통 모드를 받아 기준전극으로 되먹입니다. 공통 모드를 20~30 dB 더 눌러 줍니다.
설계 근거
| 요소 | 왜 |
|---|---|
| 직렬 저항 10 kΩ | 과전류 보호(고장 시 µA로 제한), 필터 |
| 고주파 CMRR 보호 (12-07) | |
| 1단 이득 10 | DC 오프셋 300 mV × 10 = 3 V < 헤드룸 ✅ |
| DC 서보 | 다채널에서 큰 커패시터 회피, 빠른 회복 (13-05) |
| 2단 이득 100 | 총 1000, ADC 범위에 맞춤 |
| 베셀 필터 | 스파이크 파형 보존 (4-03) |
| DRL | 공통 모드 20~30 dB 추가 억제 |
계측 증폭기 선택
e_n입력 환산 전압 잡음 밀도input-referred voltage noise densityV/√Hzi_n입력 환산 전류 잡음 밀도input-referred current noise densityA/√Hzk_B볼츠만 상수Boltzmann constantJ/KR_S신호원 저항source resistanceΩT온도 또는 주기temperature or periodv_n,total잡음 전체 전압 (순시값)noise total instantaneous voltageV| 전극 임피던스 | 권장 소자 |
|---|---|
| < 10 kΩ | AD8429 ( 1 nV/√Hz) |
| 10~100 kΩ | INA128 |
| > 100 kΩ | INA116, INA333 (CMOS, 극소) |
⚠️ 직렬 보호 저항 10 kΩ이 열잡음 12.9 nV/√Hz를 추가합니다. 전극 임피던스가 낮으면 이것이 지배적일 수 있으니 값을 조정하세요.
⚖️ 트레이드오프
| 선택 | ✅ | ⚠️ |
|---|---|---|
| 큰 보호 저항 | 안전(고장 전류↓) | 열잡음↑, 대역폭↓ |
| 작은 보호 저항 | 저잡음 | 보호 약함 |
| 1단 이득 크게 | 후단 잡음 무시 | DC 오프셋으로 포화(saturation) |
| DRL 사용 | CMRR 20~30 dB↑ | 안전 관리, 발진 가능 |
| 입력 크게 | 고주파 간섭(interference)↓ | 불일치가 CMRR을 깎음 |
케이스 C — 서미스터/열전대 온도 프론트엔드
C-1. NTC 서미스터 (저항성)
단순한 분압기입니다. 위가 고정 저항 , 아래가 온도에 따라 저항이 변하는 NTC이고, 중간점을 ADC가 읽습니다.
설계 요령:
| 항목 | 지침 |
|---|---|
| 관심 온도에서의 NTC 저항값과 같게 → 감도 최대 | |
| 자기 발열 | 이 온도를 올림. µW 이하로 |
| 여기 전압 | 낮게, 또는 펄스 여기 (측정 순간만) |
| 선형화 | 병렬 저항 또는 소프트웨어 (Steinhart-Hart) |
| 기준전압(voltage reference) | 비율 측정(ratiometric) — ADC 기준과 여기 전압을 같게 하면 기준 오차 상쇄 ✅ |
💡 비율 측정이 핵심 기법입니다. 이고 ADC도 기준이면, 의 오차·잡음이 완전히 상쇄됩니다.
자기 발열 계산:
NTC 10 kΩ, 여기 3.3 V, 열저항(thermal resistance)열저항 thermal resistance전력 1 W 를 흘렸을 때 온도가 몇 도 오르는지로, 부품이 탈지 안 탈지를 여기서 계산합니다.자세히 보기 → 100 °C/W:
P전력powerWT온도 또는 주기temperature or period허용 가능하지만, 0.01 °C 정밀도가 필요하면 여기 전압을 낮추거나 펄스 여기를 씁니다.
C-2. 열전대
| 특성 | 값 |
|---|---|
| 감도 | K형 41 µV/°C |
| 임피던스 | 수십 Ω (매우 낮음) |
| 신호 | µV급 |
| 필요 | 냉접점 보상(CJC) |
첫 단: 저잡음 바이폴라 계측 증폭기 (소스 임피던스가 낮으므로 이 중요)
냉접점 보상: 단자대 온도를 별도 센서로 측정해 소프트웨어로 보정
⚠️ 열전대는 옵셋과 드리프트가 치명적입니다. 41 µV/°C이므로 옵셋 41 µV = 1 °C 오차. 초퍼 안정화(chopper-stabilized) 소자( < 10 µV)를 쓰세요.
시뮬레이션으로 확인
# examples/16-case-studies/tia-photodiode.yaml
meta:
name: 포토다이오드 TIA
lesson: docs/16-case-studies/02-afe-examples.md
note: CF를 0/0.3p/2p로 바꾸며 스텝 응답의 링잉과 대역폭을 비교
components:
- {ref: VP, type: vdc, value: 5}
- {ref: VN, type: vdc, value: -5}
- {ref: IPH, type: ipulse, params: {i1: 0, i2: 100n, td: 10u, tr: 100n, tf: 100n, pw: 100u, per: 250u}}
- {ref: CJ, type: c, value: 50p, label: PD 접합 용량}
- {ref: RSH, type: r, value: 1G, label: PD 션트 저항}
- {ref: RF, type: r, value: 10MEG}
- {ref: CF, type: c, value: 0.3p}
- {ref: U1, type: opamp, model: OPA140}
nets:
VCC: [VP.p, U1.'v+']
VEE: [VN.p, U1.'v-']
IN: [IPH.p, CJ.1, RSH.1, RF.1, CF.1, U1.'in-']
OUT: [U1.out, RF.2, CF.2]
GND: [VP.n, VN.n, IPH.n, CJ.2, RSH.2, U1.'in+']
analyses:
- {type: tran, tstep: 100n, tstop: 500u}
- {type: ac, sweep: dec, points: 50, fstart: 10, fstop: 10MEG}
expect:
- {measure: v, node: OUT, at: 100u, analysis: tran, value: -1.0, tol: 5%}CF = 0이면 심한 링잉과 발진이, 0.3 pF이면 깔끔한 응답이 나옵니다.
🔌 세 케이스 비교
| TIA (전류원) | 계측 증폭기 (전압원) | 서미스터 (저항성) | |
|---|---|---|---|
| 입력 임피던스 | 낮아야 (가상 접지) | 높아야 | 중간 |
| 첫 단 | 반전 | 비반전·차동 | 분압 |
| 지배 잡음 | 소스 열잡음 또는 | 저항 열잡음 | |
| 주요 함정 | 발진 (피드백 극) | CMRR·오프셋 | 자기 발열 |
| 핵심 기법 | 보상 | DC 서보 + DRL | 비율 측정 |
⚠️ 이상과 실제의 차이
| 이상 | 실제 |
|---|---|
| TIA가 안정 | 과 의 극으로 발진 → 필수 |
| 가 계산대로 | PCB 기생이 그 수준 → 실측 조정 |
| 계측 증폭기 CMRR이 스펙대로 | 전극 불균형이 지배 |
| 서미스터가 온도만 반영 | 자기 발열로 스스로 온도를 올림 |
| 열전대가 µV를 정확히 | 옵셋·열전대 효과(이종 금속 접점)로 오차 |
연습문제
문제 1. TIA에서 를 1 MΩ에서 10 MΩ으로 바꾸면 SNR은?
exercises/16-02-tia-snr.yaml풀이
- 신호: 에 비례 → 10배
- 저항 열잡음: 에 비례 → 3.16배
⚠️ 단, 대역폭은 감소하고 OP앰프 잡음의 항이 커질 수 있습니다. 가 작아지므로 이 항이 나빠집니다 — 실제 개선은 10 dB보다 작습니다.
문제 2. 계측 증폭기(instrumentation amplifier)계측 증폭기 instrumentation amplifier두 입력 모두 임피던스가 높으면서 차동만 증폭하는 구조로, 전극 측정의 표준 첫 단입니다.자세히 보기 → 입력에 100 pF 커패시터를 각각 접지로 달았습니다. 두 커패시터(capacitor)의 오차가 ±10%면 10 kHz에서 CMRR은?
exercises/16-02-cap-mismatch-cmrr.yaml풀이
pF (최악)
10 kHz에서 두 경로의 임피던스 차이:
Z임피던스impedanceΩ소스 저항 10 kΩ 기준으로 불균형 비율:
CMRR동상 신호 제거비common-mode rejection ratiodB38 dB — 매우 나쁩니다.
해결: 을 10 pF로 줄이고 를 10 nF로 → 차동 필터링은 유지하면서 CMRR 보호
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